大面积透射电子显微镜的硅漂移探测器

非常成功的XZui大80在透射电子显微镜上使用的探测器立体角显著高于市售的SDD任何TEM。 X射线收集更快的提高征管效率，SDD计数处理能力。的区别是明显的，立即进行分析时，纳米粒子或收集linescans或X射线地图。Zui大的X -透射电镜将不牺牲精度的前提下提高生产率 - 所有在液氮环境。

优点

X -Zui大的TEM提供了大面积的SDD探测器的所有优点

探测器技术

    80平方毫米非常大，在高计数率性能优良传感器的数据收集提供了无与伦比的速度
    光谱分辨率高，即使在高计数率可检测的元素如要低
    接受高计数率不水浸探测器（如穿越电网酒吧或厚冶金样品）
    Peltier冷却快速降温时间和安全
    背后的皮瓣，以防止高电子通量的自动回缩

大型立体角

    减少分析时间点采集，linescans和地图
    处理未计数率较高的精度损失，以达到更好的效果，在较短的计数时间
    纳米粒子的分析变得更加容易，由于提高征管效率

液氮免费

    无需填写与液氮探测器安全的工作环境
    成本效益 - 没有液氮要求
    无需等待一个“温暖”探测器冷却。 X - Max是稳定的Zui精确的分析，在几分钟之内

特点

    独特的单传感器大面积SDD
    80mm2active区
    吞吐量> 20万CPS
    MnKa通常125eV
    被检测
    真空封闭的传感器，以减少氧气的吸收
    需要处理通道只有一个脉冲
    对TEM的优化几何
    作为标准的电动滑动

关于牛津仪器NanoAnalysis

我们提供的工具，以确定内样品的元素的存在，浓度和配置，以及各种不同的表面涂层材料的厚度，使用：微量分析，X射线荧光分析，涂层厚度测量。